當前位置: 首頁 SCI期刊 SCIE期刊 計算機科學 中科院4區(qū) JCRQ4 期刊介紹(非官網)
        Journal Of Electronic Imaging

        Journal Of Electronic ImagingSCIE

        國際簡稱:J ELECTRON IMAGING  參考譯名:電子影像雜志

        • 中科院分區(qū)

          4區(qū)

        • CiteScore分區(qū)

          Q3

        • JCR分區(qū)

          Q4

        基本信息:
        ISSN:1017-9909
        E-ISSN:1560-229X
        是否OA:未開放
        是否預警:否
        TOP期刊:否
        出版信息:
        出版地區(qū):UNITED STATES
        出版商:SPIE
        出版語言:English
        出版周期:Quarterly
        出版年份:1992
        研究方向:工程技術-成像科學與照相技術
        評價信息:
        影響因子:1
        H-index:60
        CiteScore指數(shù):1.7
        SJR指數(shù):0.264
        SNIP指數(shù):0.357
        發(fā)文數(shù)據(jù):
        Gold OA文章占比:3.76%
        研究類文章占比:98.10%
        年發(fā)文量:316
        自引率:0.2727...
        開源占比:0.0325
        出版撤稿占比:0.0078...
        出版國人文章占比:0
        OA被引用占比:0.0554...
        英文簡介 期刊介紹 CiteScore數(shù)據(jù) 中科院SCI分區(qū) JCR分區(qū) 發(fā)文數(shù)據(jù) 常見問題

        英文簡介Journal Of Electronic Imaging期刊介紹

        The Journal of Electronic Imaging publishes peer-reviewed papers in all technology areas that make up the field of electronic imaging and are normally considered in the design, engineering, and applications of electronic imaging systems.

        期刊簡介Journal Of Electronic Imaging期刊介紹

        《Journal Of Electronic Imaging》自1992出版以來,是一本計算機科學優(yōu)秀雜志。致力于發(fā)表原創(chuàng)科學研究結果,并為計算機科學各個領域的原創(chuàng)研究提供一個展示平臺,以促進計算機科學領域的的進步。該刊鼓勵先進的、清晰的闡述,從廣泛的視角提供當前感興趣的研究主題的新見解,或審查多年來某個重要領域的所有重要發(fā)展。該期刊特色在于及時報道計算機科學領域的最新進展和新發(fā)現(xiàn)新突破等。該刊近一年未被列入預警期刊名單,目前已被權威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄,得到了廣泛的認可。

        該期刊投稿重要關注點:

        Cite Score數(shù)據(jù)(2024年最新版)Journal Of Electronic Imaging Cite Score數(shù)據(jù)

        • CiteScore:1.7
        • SJR:0.264
        • SNIP:0.357
        學科類別 分區(qū) 排名 百分位
        大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q3 540 / 797

        32%

        大類:Engineering 小類:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q3 167 / 224

        25%

        大類:Engineering 小類:Computer Science Applications Q3 610 / 817

        25%

        CiteScore 是由Elsevier(愛思唯爾)推出的另一種評價期刊影響力的文獻計量指標。反映出一家期刊近期發(fā)表論文的年篇均引用次數(shù)。CiteScore以Scopus數(shù)據(jù)庫中收集的引文為基礎,針對的是前四年發(fā)表的論文的引文。CiteScore的意義在于,它可以為學術界提供一種新的、更全面、更客觀地評價期刊影響力的方法,而不僅僅是通過影響因子(IF)這一單一指標來評價。

        歷年Cite Score趨勢圖

        中科院SCI分區(qū)Journal Of Electronic Imaging 中科院分區(qū)

        中科院 2023年12月升級版 綜述期刊:否 Top期刊:否
        大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū)
        計算機科學 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

        中科院分區(qū)表 是以客觀數(shù)據(jù)為基礎,運用科學計量學方法對國際、國內學術期刊依據(jù)影響力進行等級劃分的期刊評價標準。它為我國科研、教育機構的管理人員、科研工作者提供了一份評價國際學術期刊影響力的參考數(shù)據(jù),得到了全國各地高校、科研機構的廣泛認可。

        中科院分區(qū)表 將所有期刊按照一定指標劃分為1區(qū)、2區(qū)、3區(qū)、4區(qū)四個層次,類似于“優(yōu)、良、及格”等。最開始,這個分區(qū)只是為了方便圖書管理及圖書情報領域的研究和期刊評估。之后中科院分區(qū)逐步發(fā)展成為了一種評價學術期刊質量的重要工具。

        歷年中科院分區(qū)趨勢圖

        JCR分區(qū)Journal Of Electronic Imaging JCR分區(qū)

        2023-2024 年最新版
        按JIF指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
        學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 285 / 352

        19.2%

        學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

        15.3%

        學科:OPTICS SCIE Q4 99 / 119

        17.2%

        按JCI指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
        學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 289 / 354

        18.5%

        學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

        15.28%

        學科:OPTICS SCIE Q4 104 / 120

        13.75%

        JCR分區(qū)的優(yōu)勢在于它可以幫助讀者對學術文獻質量進行評估。不同學科的文章引用量可能存在較大的差異,此時單獨依靠影響因子(IF)評價期刊的質量可能是存在一定問題的。因此,JCR將期刊按照學科門類和影響因子分為不同的分區(qū),這樣讀者可以根據(jù)自己的研究領域和需求選擇合適的期刊。

        歷年影響因子趨勢圖

        本刊中國學者近年發(fā)表論文

        • 1、Three-dimensional point cloud registration algorithm based on the correlation coefficient

          Author: Zou, Xuyan; He, Hanwu; Li, Chaorong

          Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.32.1.013010

        • 2、Laser radar-based intelligent vehicle target recognition and detection system using image detection technology

          Author: Zheng, Xiangtian

          Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.32.1.011203

        • 3、Three-stream network and improved attention mechanism-based blind image quality assessment

          Author: Zheng, Jing; Cui, Ziguan; Gan, Zongliang; Tang, Guijin; Liu, Feng

          Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.32.1.013026

        • 4、Large depth-of-field image fusion method for complex gyration class mechanical parts

          Author: Zhang, Zelin; Su, Wenzhe; Guo, Yuyao; Wang, Lei; Xia, Xuhui

          Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.32.1.013019

        • 5、Surveillance video synopsis based on spatio-temporal offset

          Author: Zhang, Yunzuo; Guo, Kaina; Zheng, Tingting

          Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.32.1.013013

        • 6、Computer-aided three-dimensional animation design and enhancement based on spatial variation and convolution algorithm

          Author: Zhang, Xiaoyu

          Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.32.1.011215

        • 7、Object detection of VisDrone by stronger feature extraction FasterRCNN

          Author: Zhang, Xiangxiang; Wang, Chunyuan; Jin, Jie; Huang, Li

          Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.32.1.013018

        • 8、Decolorization based on the weighted combination of image entropy and canny edge retention ratio

          Author: Zhang, Lina; Wan, Yi

          Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.32.1.013024

        投稿常見問題

        通訊方式:I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151。

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