當前位置：首頁 SCI期刊 SCIE期刊工程技術中科院3區 JCRQ3 期刊介紹(非官網)

Microelectronics JournalSCIE

國際簡稱：MICROELECTRON J 參考譯名：微電子雜志

中科院分區
3區
CiteScore分區
Q2
JCR分區
Q3

基本信息：: ISSN：0026-2692; E-ISSN：1879-2391; 是否OA：未開放; 是否預警：否; TOP期刊：否

出版信息：: 出版地區：ENGLAND; 出版商：Elsevier; 出版語言：English; 出版周期：Monthly; 出版年份：1967; 研究方向：工程技術-工程：電子與電氣

評價信息：: 影響因子：1.9; H-index：59; CiteScore指數：4; SJR指數：0.39; SNIP指數：0.854

發文數據：: Gold OA文章占比：2.61%; 研究類文章占比：99.32%; 年發文量：293; 自引率：0.2727...; 開源占比：0.0103; 出版撤稿占比：0; 出版國人文章占比：0; OA被引用占比：0.0096...

投稿咨詢加急見刊

英文簡介期刊介紹 CiteScore數據中科院SCI分區 JCR分區發文數據常見問題

英文簡介Microelectronics Journal期刊介紹

Published since 1969, the Microelectronics Journal is an international forum for the dissemination of research and applications of microelectronic systems, circuits, and emerging technologies. Papers published in the Microelectronics Journal have undergone peer review to ensure originality, relevance, and timeliness. The journal thus provides a worldwide, regular, and comprehensive update on microelectronic circuits and systems.

The Microelectronics Journal invites papers describing significant research and applications in all of the areas listed below. Comprehensive review/survey papers covering recent developments will also be considered. The Microelectronics Journal covers circuits and systems. This topic includes but is not limited to: Analog, digital, mixed, and RF circuits and related design methodologies; Logic, architectural, and system level synthesis; Testing, design for testability, built-in self-test; Area, power, and thermal analysis and design; Mixed-domain simulation and design; Embedded systems; Non-von Neumann computing and related technologies and circuits; Design and test of high complexity systems integration; SoC, NoC, SIP, and NIP design and test; 3-D integration design and analysis; Emerging device technologies and circuits, such as FinFETs, SETs, spintronics, SFQ, MTJ, etc.

Application aspects such as signal and image processing including circuits for cryptography, sensors, and actuators including sensor networks, reliability and quality issues, and economic models are also welcome.

期刊簡介Microelectronics Journal期刊介紹

《Microelectronics Journal》自1967出版以來，是一本工程技術優秀雜志。致力于發表原創科學研究結果，并為工程技術各個領域的原創研究提供一個展示平臺，以促進工程技術領域的的進步。該刊鼓勵先進的、清晰的闡述，從廣泛的視角提供當前感興趣的研究主題的新見解，或審查多年來某個重要領域的所有重要發展。該期刊特色在于及時報道工程技術領域的最新進展和新發現新突破等。該刊近一年未被列入預警期刊名單，目前已被權威數據庫SCIE收錄，得到了廣泛的認可。

該期刊投稿重要關注點：

預計審稿時間：約3.0個月
工程技術
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
SCIE
中科院3區
非預警

Cite Score數據（2024年最新版）Microelectronics Journal Cite Score數據

CiteScore：4
SJR：0.39
SNIP：0.854

學科類別	分區	排名	百分位
大類：Physics and Astronomy 小類：Condensed Matter Physics	Q2	181 / 434	58%
大類：Physics and Astronomy 小類：Electrical and Electronic Engineering	Q2	332 / 797	58%
大類：Physics and Astronomy 小類：Atomic and Molecular Physics, and Optics	Q2	101 / 224	55%
大類：Physics and Astronomy 小類：Surfaces, Coatings and Films	Q2	61 / 132	54%
大類：Physics and Astronomy 小類：Electronic, Optical and Magnetic Materials	Q2	133 / 284	53%

CiteScore 是由Elsevier(愛思唯爾)推出的另一種評價期刊影響力的文獻計量指標。反映出一家期刊近期發表論文的年篇均引用次數。CiteScore以Scopus數據庫中收集的引文為基礎，針對的是前四年發表的論文的引文。CiteScore的意義在于，它可以為學術界提供一種新的、更全面、更客觀地評價期刊影響力的方法，而不僅僅是通過影響因子(IF)這一單一指標來評價。

歷年Cite Score趨勢圖

中科院SCI分區Microelectronics Journal 中科院分區

中科院 2023年12月升級版 綜述期刊：否 Top期刊：否

大類學科	分區	小類學科	分區
工程技術	3區	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技	3區 4區

中科院分區表 是以客觀數據為基礎，運用科學計量學方法對國際、國內學術期刊依據影響力進行等級劃分的期刊評價標準。它為我國科研、教育機構的管理人員、科研工作者提供了一份評價國際學術期刊影響力的參考數據，得到了全國各地高校、科研機構的廣泛認可。

中科院分區表 將所有期刊按照一定指標劃分為1區、2區、3區、4區四個層次，類似于“優、良、及格”等。最開始，這個分區只是為了方便圖書管理及圖書情報領域的研究和期刊評估。之后中科院分區逐步發展成為了一種評價學術期刊質量的重要工具。

歷年中科院分區趨勢圖

JCR分區Microelectronics Journal JCR分區

2023-2024 年最新版

按JIF指標學科分區	收錄子集	分區	排名	百分位
學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q3	211 / 352	40.2%
學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY	SCIE	Q4	110 / 140	21.8%

按JCI指標學科分區	收錄子集	分區	排名	百分位
學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q3	238 / 354	32.91%
學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY	SCIE	Q3	94 / 140	33.21%

JCR分區的優勢在于它可以幫助讀者對學術文獻質量進行評估。不同學科的文章引用量可能存在較大的差異，此時單獨依靠影響因子(IF)評價期刊的質量可能是存在一定問題的。因此，JCR將期刊按照學科門類和影響因子分為不同的分區，這樣讀者可以根據自己的研究領域和需求選擇合適的期刊。

歷年影響因子趨勢圖

本刊中國學者近年發表論文

1、16-Cell stackable battery monitoring and management integrated circuit for electric vehicles
Author: Zhu, Guangqian; Qian, Libo; Li, Yongyuan; Guo, Wei; Ding, Ruixue; Yang, Yintang

Journal: MICROELECTRONICS JOURNAL. 2023; Vol. 136, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mejo.2023.105782
2、A wafer-level three-step calibration technique for BJT-based CMOS temperature sensor
Author: Gao, Ying; Liu, Xin; Jiang, Yanfeng

Journal: MICROELECTRONICS JOURNAL. 2023; Vol. 131, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mejo.2022.105671
3、Scalable modeling of grounded coplanar waveguide for MMICs design using neural network with an effective sampling strategy
Author: Hu, Yanghui; Zhang, Yuming; Lu, Hongliang; Tan, Daidao; Qi, Junjun

Journal: MICROELECTRONICS JOURNAL. 2023; Vol. 131, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mejo.2022.105670
4、A configurable area-efficient LCoS chip design with centrosymmetric pixel array
Author: Zhao, Tianhu; Liang, Yuhua; Feng, Lichen

Journal: MICROELECTRONICS JOURNAL. 2023; Vol. 131, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mejo.2022.105652
5、On-chip SRR and CSRR for millimeter-wave integrated systems: Review and applications
Author: Yang, Ke; Liang, Yuan; Zhang, Hao Chi; Feng, Guangyin

Journal: MICROELECTRONICS JOURNAL. 2023; Vol. 131, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mejo.2022.105664
6、A 10-MHz 85.1-dB SFDR 1.1-mW continuous-time Delta-sigma modulator employing calibration-free SC DAC and passive front-end low-pass filter
Author: Jin, Wei; Pun, Kong-Pang

Journal: MICROELECTRONICS JOURNAL. 2023; Vol. 131, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mejo.2022.105666
7、CMOS variable-gain phase shifter based on time-varying vector-sum method and its application to Ku-band phased array
Author: Cheng, Guoxiao; Zhang, Jin-Dong; Chen, Qiaoyu; Sima, Boyu; Wu, Wen

Journal: MICROELECTRONICS JOURNAL. 2023; Vol. 131, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mejo.2022.105672
8、A novel-16-60 V input common-mode voltage current-shunt monitor?
Author: Duan, Quanzhen; Duan, Ying; Kong, Dameng; Li, Liwei; Huang, Shengming

Journal: MICROELECTRONICS JOURNAL. 2023; Vol. 131, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.mejo.2022.105663